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LAM系列高精度作物叶面积仪

LAM系列高精度作物叶面积仪可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数,也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。

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泛胜DDY植物茎秆强度仪

泛胜DDY植物茎秆强度仪采用拉压力传感器,通过针刺、压碎、折断的方式测出茎秆断裂或者屈服瞬间产生的峰值力,即茎秆的强度。

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植物生长灯

THOTH索思植物生长灯也称植物补光灯,植物催长灯,温室大棚灯,育苗灯,属于低压荧光灯,采用进口三基色特殊荧光粉制造,可以发射出峰值为:450nm、660nm特定波长的蓝光和红光及全光谱白光。 广泛应用于育苗室、组培室、温室大棚、花卉市场、生态餐厅、农科院校等领域。

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LAM系列作物叶面积仪

LAM系列植物叶面积仪是一种使用方便、既可以在野外工作的方便携带,也可以在实验室内对叶片拍照后进行分析。可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数,也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。

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LAM-G泛胜活体叶面积仪

LAM-G泛胜活体叶面积仪可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数,也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。

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玉米光合作用测量仪

FS-3080D玉米光合作用测量仪是通过测量玉米叶片一定时间内CO2吸收(释放)的量, 并同时测量空气温湿度,叶片温度,光合有效辐射强度,气体流量以及同化C02的叶片面积等要素,就可以直接计算出植物的光合(呼吸)速率、蒸腾速率、细胞间CO2浓度和气孔导度等光合作用指标。

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拍照式叶面积仪

LAM-D拍照式叶面积仪由图像采集设备和图像处理软件组成,采用本公司新开发的图像识别软件,根据叶片轮廓特征提取、图形实物转换、边缘检测等技术,能够形象并快速得到所测叶片面积、周长、虫洞数量等参数。

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SPAD-2叶绿素测定仪

SPAD-2叶绿素测定仪根据叶绿素光谱吸收规律,采用两种不同的发光管照射叶片,通过测量透过叶片的光的强度计算出叶片内的叶绿素相对含量或者绿色程度

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DDY泛胜茎秆强度仪

DDY泛胜茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺,压碎、和弯曲强度,茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力,即茎秆的强度。

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微电脑茎秆强度仪

DDY微电脑茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺,压碎、和弯曲强度,茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力,即茎秆的强度。

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