分 析 范 围: 1PPM-99.99 同 时 分 析: 几十种元素同时分析

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3 半自动双道原子荧光光谱仪 型号:JKY/640/M315856 库号：M315856   

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微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。

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用于高分子荧光材料、发光粉及稀土掺杂粉末复合物的高温荧光测试，升温速率40℃/min.控温范围：室温--300℃；设定精度：0.1℃，控温精度0.2℃。可以用于日立全线荧光光谱仪，HJY全线荧光光谱仪。

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多多晶体物质进行织构、宏观应力、薄膜面内结构等测试

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用于TCSPC 荧光寿命测量及其他光学测量。闪烁频率10k-1MHz。多个波长供选择。产品NanoLED系列来自久负盛名的IBH公司。

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测试元素 As Sb Bi Pb Zn Te Se Zn Ge Cd Hg 检出限（DL）ng/mL ＜0.01 ＜1.0 ＜0.05 ＜0.001 重复性（RSD） <0.9 线性范围 大于三个数量级 道间干扰 0

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日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日立（SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX，膜厚仪SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X）SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管，实

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STA4000A矿石分析仪在采矿行业中，标准检验分析的矿石元素包括：钛，钒，铬，锰，铁，钴，镍，铜，锌，铷，锶，锆，铌，钼，银，锡，锑，钽，铪，钨，铅，铋等。

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全面应对制药行业铬（Cr）含量的快速测试，由于铬（Cr）元素荧光光子能量(5.4KeV)在非金属材质中能够很好的被激发。其他元素对铬（Cr）元素影响较小。因而能够比较准确的测试出非金属中的铬（Cr）含量。

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